$Book cover of: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography. By: D. Keith Bowen$

High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Name: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Brand: D. Keith Bowen
SKU: 9780367400637
Price: 84.87 EUR
Availability: InStock

D. Keith Bowen

€84,87

€84,87 €87,49 Väljamüük

Meil on laos

📦 Atsiprašome, prekės neturime sandėlyje, bet greitai atsiras!

Užsisakykite el. pranešimą ir informuosime jus iškart, kai prekę turėsime. Arba rezervuokite užsakydami dabar.

Autorius D. Keith Bowen

Kalba Anglų k.

Žanras X-ray crystallography, X-rays, diffraction

Leidėjas Taylor & Francis Ltd

Leidimo metai 2019 m.

Puslapių skč. 264 psl.

Viršelis Minkštas viršelis

ISBN 9780367400637