High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
€95,93
Praegu otsasJätke oma e-posti aadress ja anname teile teada, kui raamat on taas saadaval. Tavaliselt kulub selleks 3-4 nädalat.
14-päevane tagastusgarantiiMuutsid meelt? Tellimuse saad igal ajal tühistada või 14 päeva jooksul tagastada. Tagastustingimused
Raamatust
High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography by D. Keith Bowen, Brian K. Tanner.
Published by Taylor & Francis Group, (2019), Paperback, 264 pages.
Topics: X-ray crystallography, X-rays, diffraction, Crystals.
| Autor | D. Keith Bowen |
|---|---|
| Kirjastus | Taylor & Francis Ltd |
| Ilmumisaasta | 2019 m. |
| Keel | inglise |
| Lehekülgi | 264 psl. |
| Köide | Pehmekaaneline |
| ISBN | 9780367400637 |
